Ujian ayak
  • Minta sebut harga
    Request a -quote
    Minta sebut harga
    Your Name *
    Country Code * + Phone Number *
    Message *
    ×
  • Hantar e-mel
  • Hantar ke printer
  • Katalog produk

Ujian ayak memisahkan bahan-bahan saiz zarah yang berbeza

Ujian ayak Adalah sejenis ayak yang dipasang dalam peralatan automatik sampel saringan tersebar, yang boleh menggantikan pemeriksaan manual sampel untuk saiz zarah, sangat mengurangkan intensiti buruh, dan meningkatkan kualiti pemeriksaan sampel.

Ujian ayak biasanya dibahagikan kepada jenis menampar dan ujian jenis standard. Sieve slap, juga dikenali sebagai skrin bergetar jenis slap atau jenis slap standard mesin ayak bergetar, boleh digunakan untuk cek komposisi saiz zarah kasar umum, penggredan pengeluaran bahan superhard, dan cek komposisi bahan. Ujian Standard jenis ayak, juga dikenali sebagai ayak eksperimen standard, sesuai untuk pemeriksaan yang tepat, penapisan, dan pengesanan struktur saiz zarah, kandungan pepejal seperti cecair, dan jumlah kekotoran bahan berbutir dan serbuk.

Two types of test sieves
Spesifikasi
  • Bahan: SS304, SS316 dan tembaga
  • Aperture: 20 μm-125mm
  • Diameter dawai: 0.02-8mm
  • Diameter skrin: 10-50 cm
  • Ketinggian skrin: 4.5-8.8 cm
Jadual 1: spesifikasi penapis ujian
Item Aperture Diameter dawai Item Aperture Diameter dawai
Mm/μm Inci Mm Mm/μm Inci Mm
1 125mm 5" 8 29 2.36mm 0.0937" 1
2 106mm 4.24" 6.3 30 2mm 0.0787" 0.9
3 100mm 4" 6.3 31 1.7mm 0.0661" 0.8
4 90mm 3.5" 6.3 32 1.4mm 0.0555" 0.71
5 75mm 3" 6.3 33 1.18mm 0.0469" 0.63
6 63mm 2.5" 5.6 34 1mm 0.0394" 0.56
7 53mm 2.12" 5 35 850 μm 0.0331" 0.5
8 50mm 2" 5 36 710 μm 0.0278" 0.45
9 45mm 1.75" 4.5 37 600 μm 0.0234" 0.4
10 37.5mm 1.5" 4.5 38 500 μm 0.0197" 0.315
11 31.5mm 1.25" 4 39 425 μm 0.0165" 0.28
12 26.5mm 1.06" 3.55 40 355 μm 0.0139" 0.224
13 25mm 1" 3.55 41 300 μm 0.0117" 0.2
14 22.4mm 0.875" 3.55 42 250 μm 0.0098" 0.16
15 19mm 0.750" 3.15 43 212 μm 0.0083" 0.14
16 16mm 0625" 3.15 44 180 μm 0.0070" 0.125
17 13.2mm 0.530" 2.8 45 150 μm 0.0059" 0.1
18 12.5mm 0.500" 2.5 46 125 μm 0.0049" 0.09
19 11.2mm 0.438" 2.5 47 106 μm 0.0041" 0.071
20 9.5mm 0.375" 2.24 48 90 μm 0.0035" 0.063
21 8mm 0.312" 2 49 75 μm 0.0029" 0.05
22 6.7mm 0.265" 1.8 50 63 μm 0.0025" 0.045
23 6.3mm 0.250" 1.8 51 53 μm 0.0021" 0.036
24 5.6mm 0.223" 1.6 52 45 μm 0.0017" 0.032
25 4.75mm 0.187" 1.6 53 38 μm 0.0015" 0.03
26 4mm 0.157" 1.4 54 32 μm 0.0012" 0.028
27 3.35mm 0.132" 1.25 55 25 μm 0.0010" 0.025
28 2.8mm 0.110" 1.12 56 20 μm 0.0008" 0.02
Jadual 2: spesifikasi biasa ujian ayak bingkai
Item Diameter Ketinggian
Cm Mm Cm Inci
1 10 3.937" 4.5 1.772"
2 15 5.905" 5 1.969"
3 20 7.874" 5 1.969"
4 25 9.843" 6 2.362"
5 30 11.811" 6 2.362"
6 40 15.748" 7 2.756"
7 50 19.685" 8.8 3.464"
Ciri-ciri
  • Hayat perkhidmatan yang lebih lama
  • Kos penyelenggaraan yang rendah
  • Penghantaran yang tepat
  • Pemasangan & penggantian mudah
Industri penapisan
Permohonan
/05